变温光纤光谱测试系统（OMS）

简要描述：重光变温光纤光谱测试系统可以用于材料变温的光学透射或反射测量，也可以用于样品被紫外线或X射线激发后的光学测量。具体可应用于可见VIS光谱波段的变温测量、化学物质吸光度测量、高精度的视向速度测量、薄膜和块状样品特征研究。以及其他材料变温测量需求。温控软件，可以集成温度和光谱数据，可以实时显示并保存。

产品型号：OMS
厂商性质：工厂直销
更新时间：2023-12-29
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变温显微测试系统（MMS）变温光纤光谱测试系统（OMS）变温电阻率测试系统（RMS）高低温原位力学测试系统（FMS）介电温谱测试系统（DMS）霍尔效应测试仪（HEM）热电性能分析仪（TPA）辐射功率测试系统（PDRC）高低温霍尔效应测试系统（HMS）高低温热电参数测试系统（TMS）

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详细介绍

一、产品应用

可以用于材料变温的光学透射或反射测量，也可以用于样品被紫外线或X射线激发后的光学测量。具体可应用于可见VIS光谱波段的变温测量、化学物质吸光度测量、高精度的视向速度测量、薄膜和块状样品特征研究。以及其他材料变温测量需求。温控软件，可以集成温度和光谱数据，可以实时显示并保存。

二、产品特点

1.全程温度精确可控，采用数字PID控温，控温精度高。

2.升降温速率快，可大幅减少测试时间，且液氮消耗量少。

3.可以测量薄膜和块体材料，适用于多种应用场景。

4.设备体积小巧，占用空间小。

5.界面友好，结果可视化。

三、产品参数

OMS参数表.png

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