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  • 高低温霍尔效应测试系统(HMS)
    高低温霍尔效应测试系统(HMS)

    ◇半导体材料研究:通过研究电子迁移率、载流子浓度,了解半导体材料随温度变化规律和散射运作机制,主要集中在半导体圆晶制程上面及太阳能电池等。 ◇磁性材料研究:研究霍尔效应与磁电阻效...

    时间:2025-2-12型号:HMS访问量:578
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  • 变温电阻率测试系统(RMS)
    变温电阻率测试系统(RMS)

    变温电阻率测试系统(RMS)采用四探针法技术,具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品(康铜、镍、铋等)以及部分非金属样品(石墨、碳材料等)的电阻率。广泛应用...

    时间:2023-12-29型号:RMS访问量:4754
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  • 辐射功率测试系统(PDRC)
    辐射功率测试系统(PDRC)

    PDRC可用于测量材料的辐射制冷功率,并对不同材料绝热条件下的辐射降温性能进行对比。其温控功能可使目标温度跟随环境温度,同时记录加热功率和太阳光辐射功率。在建筑材料和太空中辐射制冷...

    时间:2023-6-14型号:PDRC访问量:2856
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  • 高低温原位力学系统(FMS)
    高低温原位力学系统(FMS)

    FMS用于在拉伸或者压缩状态下,对材料进行高低温的显微观察;主要针对有机高分子、纳米材料、金属材料和复合材料等研究领域。该设备是新材料力学性能研究的重要工具。

    时间:2025-2-12型号:FMS访问量:291
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  • 霍尔效应测试仪(HEM)
    霍尔效应测试仪(HEM)

    可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量,是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

    时间:2023-6-14型号:HEM访问量:2197
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  • 高低温热电参数测试系统(TMS)
    高低温热电参数测试系统(TMS)

    广泛应用于测量金属和半导体块状样品、纳米薄膜样品的Seebeck系数和电阻率。热电材料是一种将热能和电能直接相互转换的功能材料。Seebeck系数、电阻率和热导率是...

    时间:2025-2-12型号:TMS访问量:273
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  • 热电性能分析仪(TPA)
    热电性能分析仪(TPA)

    可用于一般热电材料的SEEBECK系数常温测量,半导体制冷片的ZT值和电阻值测量,是热电材料和器件研究生产的重要工具。

    时间:2023-6-14型号:TPA访问量:2640
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  • 变温显微测试系统(MMS)
    变温显微测试系统(MMS)

    重光变温显微测试系统是一套联用其他显微结构表征技术的冷热台型显微系统,适用于物相及其微结构分析。在超长的物镜、高精度、高灵敏温度控制和高质量的成像技术的加持下,MMS拥有更强大的样...

    时间:2023-12-29型号:MMS访问量:2058
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