分析仪器仪表-武汉重光科技有限公司

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分析仪器仪表

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TCS 系列
可与重光生产的所有型号的冷热台联用，用于材料的表征。也可以独立使用，适用于多种温度控制应用。

时间：2023-6-14型号：TCS-4K TCS-77K TCS-TE TCS-HT访问量：159

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霍尔效应测试仪（HEM）
可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量，是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

时间：2023-6-14型号：HEM访问量：166

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热电性能分析仪（TPA）
可用于一般热电材料的SEEBECK系数常温测量，半导体制冷片的ZT值和电阻值测量，是热电材料和器件研究生产的重要工具。

时间：2023-6-14型号：TPA访问量：165

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辐射制冷测量系统（PDRC）
PDRC可用于测量材料的辐射制冷功率，并对不同材料绝热条件下的辐射降温性能进行对比。其温控功能可使目标温度跟随环境温度，同时记录加热功率和太阳光辐射功率。在建筑材料和太空中辐射制冷...

时间：2023-6-14型号：PDRC访问量：238

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器件质检仪（TEAM）
使用哈曼法对热电器件进行快速测量，评价热电器件的性能优劣，并判断热电器件在生产过程中可能存在一些质量问题（例如：漏焊、虚焊等焊接不良导致的热接触和电气接触不良、热电小颗粒极性装反、...

时间：2023-6-14型号：TEAM访问量：153

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