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变温电阻测试系统(RMS)

简要描述:变温电阻测试系统(RMS)采用四探针法技术,具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品(康铜、镍、铋等)以及部分非金属样品(石墨、碳材料等)的电阻率。广泛应用于温控、温差发电、冷却电子器件(红外, 远红外探测器, 高速芯片等)、医疗器材及高温超导以及航天飞行器、潜艇用空调设备等许多重要领域。

  • 产品型号:RMS
  • 厂商性质:工厂直销
  • 更新时间:2023-12-29
  • 访  问  量:4123

详细介绍

一、产品应用

        变温电阻测试系统(RMS)采用四探针法技术,具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品(康铜、镍、铋等)以及部分非金属样品(石墨、碳材料等)的电阻率、记忆合金等金属材料相变研究。广泛应用于半导体、国防交通、能源技术等许多重要领域。


二、产品特点

    1. 变温范围广,-196℃到1200℃全覆盖,且变温过程中升降温速率可控;

    2. 测试精度高范围广,电阻测量范围0.01uΩ到1200MΩ;

    3. 测试数据量大且完整,变温过程中持续采集,电阻率数据每秒采集2次 。


三、产品参数

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四、测试结果

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