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一、产品应用
变温电阻测试系统(RMS)采用四探针法技术,具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品(康铜、镍、铋等)以及部分非金属样品(石墨、碳材料等)的电阻率、记忆合金等金属材料相变研究。广泛应用于半导体、国防交通、能源技术等许多重要领域。
二、产品特点
1. 变温范围广,-196℃到1200℃全覆盖,且变温过程中升降温速率可控;
2. 测试精度高范围广,电阻测量范围0.01uΩ到1200MΩ;
3. 测试数据量大且完整,变温过程中持续采集,电阻率数据每秒采集2次 。
三、产品参数
四、测试结果
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