18502799852

18171289006

当前位置:首页  >  产品中心  >热分析产品 > 霍尔效应测试仪(HEM) > 霍尔效应测试仪(HEM)

霍尔效应测试仪(HEM)

简要描述:可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量,是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

  • 产品型号:HEM
  • 厂商性质:工厂直销
  • 更新时间:2023-6-14
  • 访  问  量:241

详细介绍

产品应用:

可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量,是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。


产品特点:

1、高精度电流源,输出精度可达0.1微安,可测量大部分半导体材料。

2、高精度电压源,24位ADC采集,精度可达微伏级。

3、可靠的重复性,软硬件设计多重滤波,使测量数据更稳定,确保每个实验数均为多次测试好的平均值。

4、简约大气的外观设计,仪器连接操作简单,完成样品信息设置后,用户可一键点击测试, 即可同时得到电阻率、载流子浓度、霍尔系数与方阻数据。

5、测试速度快,支持快速切换电流与磁场方向,通过范德堡法进行数据处理。

已修1.jpg

1686733494502(1).png

1686733583472.png

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 验证码: