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  • 霍尔效应测试仪(HEM)
    霍尔效应测试仪(HEM)

    可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量,是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

    时间:2023-6-14型号:HEM访问量:462
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