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变温电阻率测试系统(RMS)

变温电阻率测试系统(RMS)采用四探针法技术,可在高低温环境下对半导体材料、金属材料(例如康铜、镍、铋)以及部分非金属样品(例如石墨、碳材料等)的电阻率进行测量。在材料科学研究、电子器件研发与质量检测、超导材料研究方面均发挥了重要的作用。

 

测试结果


 

技术参数 产品特点 资料下载

参数类型

项目

技术参数

基本参数

型号

RMS-600

RMS-1200

外观尺寸

140m*120mm*42mm

样品台材质

纯银

氧化铝陶瓷

样品台大小

30mm*20mm

Φ16mm

腔体净重

1kg

真空度

≤1Pa

温度参数

温度范围

-190℃到 600℃

RT 到 1200℃

温度分辨率

0.1℃

控温精度

±0.1℃

最大加热速率

50℃/min

100℃/min

最大冷却速率

-25℃/min

自然降温

加热元件

加热棒

铂丝加热器

温度传感器

铂电阻

S型热电偶

电学参数

探针类型

固定探针 (探针前端位置和角度可调)

调节方式

手动调节

探针材质

钨钢或铍铜

探针数量

4个

光学参数

观察窗个数

1

正面观察窗大小

Φ41mm

Φ32mm

窗片材质

石英

整机参数

控制箱尺寸

350mm*350mm*150mm

用电要求

220V/50Hz

控温算法

二自由度PID

人机交互

WinTemp-RMS

整机功率

200W

400W

电阻率测试参数

电阻率测试误差

≤10%

重复性测试误差

≤3%

电阻率测量范围

1e-8Ω 到 1.2e+9Ω

样品尺寸要求

L≥10mm W≤4mm T≥50nm

 (适用于与块状、片状、丝材和带基底的薄膜样品)  

1. 变温范围广,-190℃到 1200℃全覆盖,且变温过程中升降温速率可控;

2. 测试精度高范围广,电阻测量范围 1e-8Ω 到 1.2e+9Ω;

3. 测试数据量大且完整,变温过程中持续采集,电阻率数据每秒采集 2 次。