电学测试冷热台
高低温位移探针台
重光科技OE系列探针台，根据制冷方式分为液氮制冷和GM制冷机两种，温度范围从-260℃度到600℃可控。产品兼容低至1pA的直流信号，50GHz的高频信号以及1KV的高压信号； 显微镜、探针、变温模块可自行切换，提供拓展的物性测量软件，包含光电热等测试功能； 广泛应用于半导体工业、MEMS、超导、电子学、物理学和材料学等领域，可以做标准的IV、CV、微波和光电实验。
正面探针型高温热台
采用高温加热元件，可以在1200℃下长期稳定使用； 采用高温陶瓷固定探针臂，保证高温下探针稳定可靠； 可增加一路温度信号，用于和其它测试软件结合；
正面探针型冷热台
适合测试探针需要接触到样品正面的情况，测试探针可前后伸缩和自由转动，因此使用起来灵活方便。根据探针和样品的接触状况，可选择不同材质和触点形状的探针。 配套：A2505（光学平台方腔支架）、A2801（铍铜探针）、A 2802（高温合金探针）、A2803（钨钢探针）。
背面探针型冷热台
适合电极在样品背面的情况，探针可耐受高低温环境重复使用。 上部观察窗口离样品距离较远，不需要进行气体吹扫来防止窗口表面结露。 提供外部接线盒，用于信号切换，结合外部的湿度控制模块，适用于钙钛矿、太阳能电池、OLED发光等的变温测试和分析。
SEM原位拉伸冷热台
SEM原位拉伸冷热台用于在拉伸或者压缩状态下，对材料进行高低温的显微观察；主要针对有机高分子、纳米材料、金属材料和复合材料等研究领域；该设备是新材料力学性能研究的重要工具。
Congtical Technology