热分析测试系统
高低温霍尔效应测试系统（HMS）
半导体材料研究：通过研究电子迁移率、载流子浓度，了解半导体材料随温度变化规律和散射运作机制，主要集中在半导体圆晶制程上面及太阳能电池等。磁性材料研究：研究霍尔效应与磁电阻效应，为磁存储、磁传感器等领域的发展提供了重要支持。此外，对于一些自旋电子学材料，变温霍尔效应测量有助于研探索新型自旋电子学器件的应用潜力。
变温电阻率测试系统(RMS)
变温电阻率测试系统（RMS）采用四探针法技术，具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品（康铜、镍、铋等）以及部分非金属样品（石墨、碳材料等）的电阻率。广泛应用于温控、温差发电、冷却电子器件(红外, 远红外探测器, 高速芯片等)、医疗器材及高温超导以及航天飞行器、潜艇用空调设备等许多重要领域。
高低温热电参数测试系统（TMS）
广泛应用于测量金属和半导体块状样品、纳米薄膜样品的Seebeck系数和电阻率。热电材料是一种将热能和电能直接相互转换的功能材料。Seebeck系数、电阻率和热导率是热电材料研究的三个主要参数。TMS-2广泛用于测量高低温条件下，金属和半导体材料的Seebeck系数和电阻率，测试的对象包括块体样品、丝状样品和热电薄膜样品（厚度≥50nm）。
霍尔效应测试仪（HEM）
可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量，是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。
热电性能分析仪（TPA）
可用于一般热电材料的SEEBECK系数常温测量，半导体制冷片的ZT值和电阻值测量，是热电材料和器件研究生产的重要工具。
变温显微测试系统（MMS）
重光变温显微测试系统是一套联用其他显微结构表征技术的冷热台型显微系统，适用于物相及其微结构分析。在超长的物镜、高精度、高灵敏温度控制和高质量的成像技术的加持下，MMS拥有更强大的样品表征变温分析能力，进一步提高了数据的质量和数据的完整性，也极大地提升了实验观测体验。
变温光纤光谱测试系统（OMS）
重光变温光纤光谱测试系统可以用于材料变温的光学透射或反射测量，也可以用于样品被紫外线或X射线激发后的光学测量。具体可应用于可见VIS光谱波段的变温测量、化学物质吸光度测量、高精度的视向速度测量、薄膜和块状样品特征研究。以及其他材料变温测量需求。温控软件，可以集成温度和光谱数据，可以实时显示并保存。
介电温谱测试系统（DMS）
重光变温介电测试系统是用于研究材料介电性能研究的测试系统。电介质是指在电场作用下能够被电极化的绝缘体，通常使用相对介电常数和介质损耗来表征电介质的介电性能。为了研究电介质的介电性能的热稳定性，常常需要测定一定温度区间下介电（性能）参数（相对介电常数和介质损耗）随温度变化的情况。尤其是压电材料和铁电材料，变温介电性能对于其的理论研究和实际应用至关重要。
辐射制冷测试系统（PDRC）
PDRC可用于测量材料的辐射制冷功率，并对不同材料绝热条件下的辐射降温性能进行对比。其温控功能可使目标温度跟随环境温度，同时记录加热功率和太阳光辐射功率。在建筑材料和太空中辐射制冷有普遍的应用。
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