变温光纤光谱测试系统（OMS）
可以用于材料变温的光学透射或反射测量，也可以用于样品被紫外线或X射线激发后的光学测量。具体可应用于可见VIS光谱波段的变温测量、化学物质吸光度测量、高精度的视向速度测量、薄膜和块状样品特征研究。以及其他材料变温测量需求。温控软件，可以集成温度和光谱数据，可以实时显示并保存。
技术参数
产品特点
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参数类型 | 项目 | 技术参数 |
冷热台 | 冷热台尺寸 | 140mm*100mm*56mm |
入射光角度 | 65°(57°-72°)或70° | |
光孔直径 | 18mm | |
窗口材质 | 无应力石英玻璃 | |
样品区域 |
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温控器 | 温度范围 | -196℃-600℃ |
控温精度 | 0.1℃ | |
显示精度 | 0.1℃ | |
温度传感器 | 铂电阻 | |
加热方式 | 加热棒加热 | |
制冷方式 | 液氮制冷 | |
升温速率 | 1-50℃/min,程序可控 | |
降温速率 | 1-40℃/min,程序可控 | |
温控箱尺寸 | 250mm(W)*150mm(D)*30mm(H) | |
温控算法 | 智能PID算法 | |
温度曲线 | 40段 | |
人机交互 | 按键+断码屏 |
1.全程温度精确可控，采用数字PID控温，控温精度高。
2.升降温速率快，可大幅减少测试时间，且液氮消耗量少。
3.可以测量薄膜和块体材料，适用于多种应用场景。
4.设备体积小巧，占用空间小。
5.界面友好，结果可视化。
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