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霍尔效应测试
霍尔效应测试仪（HEM）
可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量，是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。
高低温霍尔效应测试系统（HMS）
半导体材料研究：通过研究电子迁移率、载流子浓度，了解半导体材料随温度变化规律和散射运作机制，主要集中在半导体圆晶制程上面及太阳能电池等。磁性材料研究：研究霍尔效应与磁电阻效应，为磁存储、磁传感器等领域的发展提供了重要支持。此外，对于一些自旋电子学材料，变温霍尔效应测量有助于研探索新型自旋电子学器件的应用潜力。
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彭工（华中区域）：13100616637
彭工（华东区域）：13100616836
李工（其它区域）：18502799852
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