热电性能测试
高低温热电参数测试系统(TMS)
广泛应用于测量金属和半导体块状样品、纳米薄膜样品的Seebeck系数和电阻率。热电材料是一种将热能和电能直接相互转换的功能材料。Seebeck系数、电阻率和热导率是热电材料研究的三个主要参数。TMS-2广泛用于测量高低温条件下,金属和半导体材料的Seebeck系数和电阻率,测试的对象包括块体样品、丝状样品和热电薄膜样品(厚度≥50nm)。
热电性能分析仪(CCM-5)
可用于一般热电材料的SEEBECK系数常温测量,半导体制冷片的ZT值和电阻值测量,是热电材料和器件研究生产的重要工具。
器件质检仪
器件测试仪(TEAM)是使用哈曼法对热电器件进行快速测量,评价热电器件的性能优劣,并判断热电器件在生产过程中可能存在一些质量问题(例如:漏焊、虚焊等焊接不良导致的热接触和电气接触不良、热电小颗粒极性装反、热电材料性能下降等)。














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