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电学性能测试
变温电阻率测试系统(RMS)
变温电阻率测试系统（RMS）采用四探针法技术，具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品（康铜、镍、铋等）以及部分非金属样品（石墨、碳材料等）的电阻率。广泛应用于温控、温差发电、冷却电子器件(红外, 远红外探测器, 高速芯片等)、医疗器材及高温超导以及航天飞行器、潜艇用空调设备等许多重要领域。
介电温谱测试系统（DMS）
重光变温介电测试系统是用于研究材料介电性能研究的测试系统。电介质是指在电场作用下能够被电极化的绝缘体，通常使用相对介电常数和介质损耗来表征电介质的介电性能。为了研究电介质的介电性能的热稳定性，常常需要测定一定温度区间下介电（性能）参数（相对介电常数和介质损耗）随温度变化的情况。尤其是压电材料和铁电材料，变温介电性能对于其的理论研究和实际应用至关重要。
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